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二手岛津X荧光光谱分析仪 EDX-700HS

二手岛津X荧光光谱分析仪 EDX-700HS

二手岛津X荧光光谱分析仪 EDX-700HS 主机部分:

X射线发生器单元

X射线管

类型 Rh靶

冷却方法 空冷(附风扇)

2X射线电源单元

电压 5-50kV,每步1Kv(测定重金属(Cd,Pb,Hg,Br,Cr等)时,可以用50kV。但测定轻元素时,15kV是有效的。另在工作曲线法中,随时可设定最佳电压。) 电流 1-1000μA,每步1μA

稳定度 ±0.01%(外电压波动±10%)

保护电路 过电压, 过电流, 过功率,

X射线连锁保护

(特点说明:电压、电流可以由计算机控制自动调节,满足不同元素的高精度分析,同时满足RoHS,ELV指令扩展的要求)

3、一次X射线滤波片 5种自动交换

(特点说明:不同元素应该采用不同的滤光片进行分析,这样才能有效降低背景,得到高准确度的测量数据。EDX-720进行元素分析时可以自动判断元素和更换相应的滤光片,无须手动更换)

二手岛津X荧光光谱分析仪 EDX-700HS检测器:

1、检测器

类型 Si(Li)检测器

液氮 只有在分析时添加

液氮消耗 少于1升/天

检测面积 10mm2

分析元素 Na-U

分辨率 :小于150电子伏特

(特点说明:采用液氮制冷方式的检测器具有高分辨率,可以避免元素谱线之间的干扰,从而保证高准确度的分析。在性能、实绩、稳定性上,Si(Li)半导体是对性的实绩(岛津检测器是自己生产,在万一发生故障也迅速对应)。 掘场按振动检测器的性能下降。 精工较差的Si-PIN半导体分辨率为220eV、在分析树脂中的Cd、Pb时,容易受到Br和Sb等共存元素的干扰、并有时不能检出,还有因为是低强度,在测试金属中有害元素的感度也差。)

2、计数单元

放大器

拟合时间 10μ秒

增益变化 高/低

多道分析器(MCA)

变频型 顺序比较ADC

道数 2048道

最大计数率 232-1/道

二手岛津X荧光光谱分析仪 EDX-700HS样品室与测定室单元

1、样品室

二手岛津X射线荧光光谱分析仪EDX-700HS,二手荧光光谱分析仪盖子 自动开启/关闭(带安全系统)

每次测定时盖子自动上升与下降。

最大样品尺寸 300mm 直径 x 150mm高

二手岛津X射线荧光光谱分析仪EDX-700HS,二手荧光光谱分析仪(特点说明:样品室自动开启,样品盖子的结构设计有效避免X光的泄露,满足日本及中国X射线的泄露控制标准。超大型的样品室可以容纳大型的部件直接放入测试,无须切割)

2、测定室

X射线照射面积 下照射

光栏直径 1、3、5、10mm可选

(特点说明:不同的分析面积采用不同尺寸的光栏,可以保证各种大小样品的高精度测试。)

测定室开孔 13mm

3、测定气氛:大气

4、CCD观察定位系统

配备CCD数码观察系统,可以准确定位分析区域。

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